臺(tái)式掃描電子顯微鏡ZEM18信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)?？赏瑫r(shí)搭配SE探測(cè)器、BSE探測(cè)器、EDS探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品元素成分，形貌襯度的全面分析。

產(chǎn)品特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌

高度集成的光電設(shè)計(jì)，帶一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)硬件配置

預(yù)對(duì)中鎢燈絲， 用戶(hù)可自行更換， 維護(hù) 成本低， 性?xún)r(jià)比高

可選配10kV減速樣品臺(tái)

抽真空時(shí)間小于90s

信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)

二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀等多種探測(cè)器。(SE+BSE模式同時(shí)采集，任意疊加)

加速電壓連續(xù)可調(diào)，選配低真空模式，適應(yīng)多種類(lèi)型樣品和原位測(cè)試功能

無(wú)需特裝設(shè)備間和額外減震臺(tái)，常規(guī)市電即插即用

豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等)

支持寄樣測(cè)試

應(yīng)用案例

臺(tái)式掃描電鏡ZEM 18廣泛運(yùn)用在電子半導(dǎo)體/工業(yè)檢測(cè)、功能無(wú)機(jī)材料/化工、科研教學(xué)/生命科學(xué)、新能源材料等行業(yè)。

部分客戶(hù)